利用動脈--回波之方法，可以量得超聲波在高純度壓電半導體硫化鎘內之衰減。測量溫度範圍為4.2°k ～300°k，聲波頻率範圍為10 ～70MHz。在低溫時(<60°k)，衰減隨溫度而改變，衰減高峰之是否存在視波傳播之方向和偏振之方向來決定，壓電耦合為在此溫度範圍之聲波衰減主因，聲聲子和熱聲子之作用，亦產生少部分之聲波衰減。在高溫時(>100°k)，衰減與溫度之變化無關，聲聲子和熱聲子之作用，成為聲波衰減之主因。